植物冠層的剖析研討，是了解植物生理生態(tài)的重要方式，目前，在植物冠層的相關目標測定方面，科研人員首要是借助專業(yè)儀器-植物冠層分析儀來進行測定和剖析，其首要作用是進行冠層光能資源調查,丈量植物冠層中 光線的攔截，研討作物的成長發(fā)育、產(chǎn)值品質與光能使用間的聯(lián)系，那么植物冠層分析儀首要能測哪些數(shù)據(jù)呢？植物冠層分析儀的測定效果又怎么樣呢？
一般來說，國外植物冠層分析儀首要能夠測的數(shù)據(jù)首要有無損傷丈量測定田間植被的葉面積指數(shù)（LAI）、均勻葉傾角（MTA）、無截取散射（DIFN）、表觀植被集合度指數(shù)（ACF）等植物成長相關參數(shù)。而我們國產(chǎn)的植物冠層分析儀則依據(jù)我們實踐的研討需要來定義植物冠層分析儀的功能和測定的目標，不同型號的植物冠層分析儀所測目標數(shù)據(jù)是不同的。
云唐科技植物冠層分析儀用于400nm～700nm波段內(nèi)的光合有效輻射（PAR）丈量、記載。丈量值的單位是平方米/秒上的微摩爾；
植物冠層分析儀測定和剖析的目標數(shù)據(jù)就比較多了，可快速測定植被外表參數(shù)、植物冠層信息、植物營養(yǎng)信息、土壤營養(yǎng)信息、環(huán)境參數(shù)、植物病蟲害程度等，軟件可剖析植被指數(shù)RVI、NDVI、作物葉層含氮量、氮積累量、葉面積指數(shù)、葉干重等。首要用于高冠植物剖析，可無損丈量葉面積指數(shù)、葉片均勻傾角、散射輻射透過率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度角下的消光系數(shù)、葉面積密度的方位分布、冠層表里的光合有效輻射（PAR）等。
植物冠層分析儀廣泛應用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研，研討作物的成長發(fā)育、產(chǎn)值品質與光能使用間的聯(lián)系，為推進現(xiàn)代農(nóng)業(yè)科研發(fā)展，助力農(nóng)業(yè)現(xiàn)代化進步方面做出了必定的突出貢獻。
